Super X-Ray面密度测量仪自上市以来，凭着划时代的超高扫描效率、超强分辨力等突出优势，为客户提高生产效率和生产质量，带来了更高的生产效益，赢得了客户的信任和好评！

以下是某锂电行业龙头企业现场使用Super X-Ray面密度测量仪进行分区数据MSA验证的使用反馈：

 

%P/T着重评估测量系统针对相关产品规格的测量效果，强调测量系统对公差界限的分析性能（判断产品是否合格）能否测量得足够精确。

%GageR&R着重评估测量系统对整体过程变异的测量效果，强调测量系统对生产过程改进分析性能（过程是否已有改进）能否测量得足够精确。

%P/T和％GageR&R是评估测量系统性能的两个不同方面，缺少其中任何一个都将是不全的。一个好的测量系统，必须同时使这两项指标都足够小，下表归纳了两个指标的判断依据：

测量系统合格标志

%GageR&R或％P/T	测量系统能力
小于10%	良好
介于10%~30%	勉强可接受
＞30%	不合格

 

而Super X-Ray面密度测量仪在该客户的应用中表现为：

40米/分钟扫描速度%GRR 3.85％，%P/T 2.40%；

60米/分钟扫描速度%GRR 5.12％、%P/T 2.85%。

远远超出优秀判定值

当前，随着锂电池领域的发展，宽幅、高速的极限产能和对测量效率的要求提高，传统检测方法费时费力，检测效率低，易出现缺陷漏检与误检；锂电制造企业对极片检测设备提出了极高要求，也因此，银河8366ccSuper X-Ray面密度测量仪一经推出，便引起行业高度关注。相信此次Super X-Ray面密度测量仪的客户使用反馈，能让更多客户看到Super X-Ray面密度测量仪的测量实力，看到银河8366cc的产品实力！

 

Super X-Ray面密度测量仪核心优势

1、超宽幅涂布测量：可适应超过1600mm幅宽的测量；

2、超高速涂布扫描：扫描速度0-60米/分可调；

3、创新固态半导体探测器：大成自主研发的锂电行业创新极片测量固态半导体射线探测器，微秒级响应性，响应速度较传统方案提升10倍；

4、高速、高精度直线电机驱动: 扫描速度较传统方案提高3-4倍；

5、自研高速测量电路：采样频率可达200kHz，提升涂布闭环的效率与准确性；

6、削薄容量损失计算：Super X-Ray光斑宽度最窄可达1mm，可以准确测量极片涂覆区“边缘削薄轮廓、划痕”等细节特征，削薄容量损失最大可超过2%。

银河8366cc始终坚持产品底线，立足研发，不断更新、不断优化，在研发和产品质量中精益求精，实现技术领先。未来，银河8366cc也将推出更多高品质的产品，助推锂电制造高质量发展！